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主要特色：
LED driver為電流源，因此有一可輸出的電壓範(fàn)圍及一固定的輸出電流。在LED driver的測試上，一般常使用的方式有下列幾種：
但是這些測試方式都有其缺點(diǎn)，無法*適合LED driver的測試需求。
由LED的V-I特性曲線中，可知LED有一順向偏壓VF及一導(dǎo)通電阻(Rd)。當(dāng)以真實電阻為負(fù)載，其V-I特型是一直線，並無法模擬LED的特性。尤其當(dāng)LED driver開 電壓上升時，電流波形不同，可能會無法開 。而傳統(tǒng)電子負(fù)載的CR及CV模式，都是以穩(wěn)態(tài)時的LED操作點(diǎn)為設(shè)定值，對開關(guān)機(jī)或PWM調(diào)光動態(tài)的特性，無法模擬，也可能導(dǎo)致LED driver產(chǎn)生不正常的動作或保護(hù)。而若以LED來當(dāng)負(fù)載，雖能*測試LED driver。但卻有LED老化問題，及LED driver不同的輸出電壓測試上，需串聯(lián)不同顆數(shù)的LED，如此將會造成測試上與生產(chǎn)上的不便。
致茂6310A series電子負(fù)載中的63110A獨(dú)家新創(chuàng)了一個新的操作模式—LED模式，來模擬LED。使用者僅需透過設(shè)定LED driver的輸出電壓、電流，即可模擬LED的拉載特性。還可設(shè)定LED的操作點(diǎn)阻抗及高頻阻抗，讓拉載電流及高頻連波與更趨近於真實LED。對於PWM調(diào)光(Dimming)測試，63110A的全新設(shè)計中，亦增加了頻寬，讓使用者亦可透過電子負(fù)載完成動態(tài)調(diào)光測試。
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